読書「CCD/CMOSイメージセンサの性能と評価測定」　米本和也著　CQ出版社　　よくぞ書いてくれた、出版してくれた

今日は半導体デバイスの評価測定について書きます。

本との出会い
前職が、アナログLSIとセンサーの研究開発で、CCD/CMOSイメージセンサの開発にも関わっていました。デバイスの開発に必要な情報は今なら、ほとんどなんでもネットから得られますが、その前は、専門書、技術論文、特許を読み漁って得ていました。
この本は、仕事のために買い求めた専門書の一冊です。米本さんが先に書かれた「CCD/CMOSイメージセンサの基礎と応用」も読んでます。

電気屋・電子屋の専門書
研究開発の専門を深く掘れば掘るほど、情報を得るのが難しくなり、一般に手に入る専門書では、ことたりなくなります。そんななか、電気屋・電子屋にはCQ出版社があります。50年以上、もっとか？価値のある情報を掲載した本と雑誌を、時代の変化に遅れないで、時に先取りして提供しつづけてくれていて、ほんと、助かる、っていうか、神様のような存在です。

この本の価値
米本さんが、その経歴でもって、デバイスの評価測定について、網羅的に分かりやすくまとめ、CQ出版がそれを書籍化してくれてます。よくぞ書いてくれた、出版してくれた、そう思います。
開発の現役時、この本に書かれたような評価測定を、自分で行ったり、頼んでやってもらっていました。それは、先輩から引き継ぎ、自分の経験・技術でできる範囲であり、教科書やお手本を参考にしたものでなかったです。競合はどうしているのか？、この方法でいいのか？知りたかったのですが、調べようがなく、諦めてました。この本が参考にすれば、こんな、心配はいらなくなります。
この本を一度読んだだけで、評価測定ができるようになるわけでないので、業務で行き詰まり、こまった時に、繰り返し読むべき本です。

写真１　本の表紙（著者撮影）　お茶を飲みながら読んでいて、うっかりこぼしてカバーをよごしてしまった