マガジンのカバー画像

Weekly 特許検索・特許分析

特許調査・特許分析スキルアップのためのお役立ち情報を毎月2-3回程度お届けいたします。注目テクノロジーや身近な製品・サービスを取り上げて、主に日本特許庁の無料データベースJ-Pl…
このマガジンを購読いただくと、旬なトピックや身近な話題を通じて、J-PlatPat等の無料データベ…
¥1,000 / 月 初月無料
運営しているクリエイター
イーパテント－知財情報コンサルティング®

AIを活用した特許調査・分析の考え方と留意点

本記事は情報機構「特許調査へのAI導入と業務効率化および特許情報の有効活用方法」（2022年9月）に寄稿した論考です。 日本で初めてAIを用いた特許調査ツールである「Lit i View PATENT EXPLORER」（UBIC、現在FRONTEO）1)が登場したのは2015年秋であった。それから7年が経過して、現在は様々なAIを利用した特許調査ツールが各社からリリースされていると同時に、日本特許庁でもAIを活用した先行技術調査や技術動向分析の分類展開への検討を進めている

¥500
イーパテント－知財情報…

特許公報読み込み時に分類付与漏れを確認する方法

「知財情報を組織のチカラに®︎」をモットーに活動している知財情報コンサルタントの野崎です。 特許調査・分析を行う際に、特許公報を読みながらノイズか該当かをチェックするだけではなくて 用途・アプリケーション 課題 解決手段・技術 といった分類軸へ分類展開することもあるかと思います。 しかし、分類軸の数が多くなってくると、どうしても分類付与を忘れてしまう場合もあります（例：課題と解決手段・技術は分類付与したが、用途・アプリケーションの分類付与をしていなかった）。 今

¥500
イーパテント－知財情報…