論文：データI/Oパターンに着目したテスト分析手法の提案

情報学広場：情報処理学会電子図書館

論文読むシリーズです。今回は湯本先生の論文です。

簡単に言うと

・テストデータの入出力をパターン化して、そのパターンに当てはまるようにテスト条件を選ぼう

・パターンは全部で9個あるが、3個だけでいいかも

・このパターン使うと、テスト条件がもれなく識別できるかも

ということみたいです。あ、テスト条件は仕様項目という用語で書かれていますね。

論理的機能構造がそもそも理解できていない

すみません、不勉強で。それを理解してからですよね。勉強してきます。

入出力でパターン化できる

入力出力それぞれ内部・外部・内部かつ外部の3*3=9パターンがすべてで、テスト条件はそれらのどれかに当てはまると。内部と外部がまだ理解できていないのでこれですべてかどうかが判断できないです。再び、論理的機能構造の勉強からですね。。

＞これがデータの入出力から見たテスト実行のすべてとなる

この仮定が本当だったらすごいですね。入力ないパターンとかないのでしょうか。さすがに何かあるか。

入出力のパターンは限定されている

＞実際に使われたパターンは、表2に示す通り、P1とP4とP7だけであった

P1は入力外部-出力外部、P4は入力内部-出力外部、P7は入力内部かつ外部-出力外部です。内部がラルフチャートにおける状態変数的なものかなと思ったのですが、そうとも限らないようですね。

もしこの3パターンに限定できるのであれば、とても大きなことだと思います。ただ、これも、前提となる内部・外部の意味がわからないと何も言えません。。

テスト分析はエキスパートじゃないとできないプロセスだと一般的に思われているので、それが一定自動化できるのであればそれはすごく大きなことですよね。もうちょっと勉強して有用さを考えてみたいと思います。