見出し画像

静電破壊評価みたいな実験室で行うのもあるが、多くはLSIテスタを用いた評価、特性測定である

  • ACテスト

テストパターンを用いたダイナミックテスト
まずはシミュレーション通りにパターンがパスすること
そして入力レベル(VIH/VIL)が規定内であること
そしてタイミングマージンがあること

  • DCテスト

VOH/VOL、リーク等
出力ピンの状態をVOH測るならHighにしないといけないので、テストパターンがパスしていることが前提である
またこの時のテストパターンは、ACパターンをDCに分解したものが用いられる
分解とは、クロックならLHLの3ステップに分けるといった感じ

まあ最初のサンプル(プロトとか呼ばれていた)のパターンが通るか否かは、まさに天国か地獄かで、通らないと地獄の解析が始まるのだ

この記事が気に入ったらサポートをしてみませんか?