半導体試験技術

Function試験とDC試験

SoCの基本構成を示す。

SoC アーキテクチャは、プロセッサ、メモリ、周辺回路、通信バスで構成されています。
https://jp.mathworks.com/discovery/soc-architecture.html

SoCをテストする半導体試験装置(ATE: Automated Test Equipment)のテストヘッドにはDPS(Device Power Supply)とDigital Moduleが搭載されている。
DPSは測定デバイスへの電源供給を行う。
デジタルモジュールは各ピンへのピンエレクトロニクスを持ち、DUT(Device Under Test)のDC特性測定と入力信号発生/出力信号判定(Driver / Comparator)を行う。